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在汽车电子领域，可靠性和清静性是永恒的话题。AEC-Q101标准作为汽车电子组件的主要质量包管，其对分立器件的间隙事情寿命（IOL）测试尤为要害。

　　AEC-Q101标准包括了分立半导体元件（如晶体管，二极管等）最低应力试验要求的界说和试验条件，试验项目主要参考了军用级，工业级和车用级的标准，其中Group A加速情形应力试验的间隙事情寿命（IOL）就参考了军用级标准，参考MIL-STD-750半导半导体器件的标准情形测试要领Method 1037举行。

　　PART 1、试验目的

　　确定半导体器件在特定条件下是否切合划定的周期数，在器件重复开启和关闭的条件下，它加速了器件的芯片和装置面之间的所有键合和接口的应力，因此较适适用于管壳装置类型（例如螺柱、法兰和圆盘）器件。

　　PART 2、试验条件

　　在初始预热周期后处于稳固状态时，一个周期应包括一个“开启”阶段，即当器件突然而非逐渐接通电源直到?Tj最低抵达100℃（不凌驾器件的最大额定结温），紧接着为一个“关闭”阶段，即当电源突然断开时，通过冷却管壳抵达转变的?Tj温度，辅助（强制）冷却只允许在关闭阶段举行。如?Tj不可抵达100℃，可举行功率温度循环（PTC）试验取代。

　　所有器件都应举行标准要求的时间或循环次数，?Tj≥100°C时举行1000小时或15000个循环，?Tj≥125°C时举行500小时或7500个循环，最终测试时间或循环数依据下列公式举行盘算：

　　示例1：一个能够开2分钟/关4分钟的封装，在?Tj≥100℃时需要10000次循环[60000/(2+4)]，或在?Tj≥125℃时需要5000次循环。

　　示例2：一个能够开1分钟/关1分钟的封装，在?Tj≥100℃时需要15000次循环，或在?Tj≥125℃时需要7500次循环。

　　X=器件从情形温度抵达划定的结温?Tj所需的最短时间。

　　Y=器件从划定的结温?Tj冷却到情形温度所需的最短时间。

　　测试板上的仪器、零件装置和散热方法将影响每个封装的x和y。

　　PART 3、电性能参数选择

　　间隙事情寿命（IOL）试验前后需测电性能参数，以下是最小检测的参数要求，所有器件性能参数必需切适用户零件规范的要求。

　　晶体管

　　二极管

　　变容管

　　PART 4、失效判断

　　试验后电性能参数不可坚持在初始读数的±20%以内为失效；

　　关于RDS（ON）最大≤2.5 mOhm的器件，RDS（ON）的转变允许值为≤0.5 mOhm；

　　允许的泄泄电流不凌驾测试前初始值的5倍，对MOSFET而言，关于0h测试值<10nA(IGSS和IDSS)，测试后为50nA；

　　器件外观不可以泛起任何物理损坏。

　　AEC-Q101标准的IOL测试是汽车电子组件质量控制的主要环节。通过这一测试，我们能够确保分立器件在严苛的汽车情形中的可靠性，为每一位驾驶者提供越发清静、可靠的驾驶体验。

　　CTI9888拉斯维加斯检测聚焦"芯”营业、拓展“芯”能力，可为客户提供AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q200、AEC-Q104等多个系列的测试认证服务。